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LIK SELECT

Vielfältige Konfigurationsmöglichkeiten

Flexible Integration und Miniaturisierung der Anwendung sind die Zielstellungen der neuen LIK-Serie

Die brandneue 3-Feld-Abtasteinheit mit integrierter Elektronik bietet mehrere Verbesserungen:

  • Sehr kleine und konfigurierbare Abtasteinheit
  • 20 µm Teilungsperiode und Messschritte bis zu 78,125 nm
  • Neue 3-Feld-Abtasttechnologie mit verbesserter Signalqualität
  • Keine Phasen- und Offsetfehler
  • Verfügbare Schnittstellen: 1 VSS , TTL oder RS-422
  • Reduzierter Stromverbrauch und geringe Wärmeentwicklung
  • Interpolierte TTL-Signale direkt aus dem Messkopf ohne zusätzliche Elektronik
  • Möglichkeit einer elektronischen Justierung nach der
  • Montage zur Reduzierung von statischen Montagefehlern und eine verbesserte ADJUSTMENT TOOL-Anbindung
  • Signalabgleich mit PWT 101 von HEIDENHAIN möglich
Verwirklichen Sie Ihre Ideen

Hohe Variantenvielfalt durch modulare Bauweise und individuell anpassungsfähige Komponenten

Sparen Sie Platz

Sehr kleine und flache Bauform des Messsystems ermöglicht eine hohe Platzersparnis bei der Integration

Präzise Positionierung

Hohe Signalqualität und Stabilität aufgrund eines neuartigen Sensordesigns und 3 separaten Abtastfeldern

Technische Daten

Abtastkopf
Dimensionen (Sensormodul) 16 mm x 8 mm x 2,2 mm
Gewicht2 g (ohne Rahmen)
Anzahl Abtastfelder2 für Inkrementalspur + 1 für Referenz
Abtastfrequenz max. 500 kHz
Schnittstellen1 Vss
TTL
Signal-Interpolationsfaktorbis zu 64
Interpolationsabweichung±85 nm
Auflösungbis zu 78,125 nm
Versorgungsspannung5 V ±10%
Stromaufnahme 50 mA (1 Vss)
150 mA (TTL)
Steckverbinder Typ 15-poliger D-Sub
Kabellängen 0,3 m
1 m
3 m
Kabeldurchmesser3,7 mm
Betriebstemperatur0°C bis +55°C
Maßverkörperung
Maßband (Edelstahl)
Bezeichnung / TypMI Maßband
MaterialEdelstahl
Teilungsperiode 20 μm
Position Referenzmarkein der Mitte
in 50 mm Abständen
kundenspezifisch
Genauigkeit±3 μm/m
±5 μm/m
Max. Messlänge2.480 mm
Maßstab (Glas)
Bezeichnung / TypMI Maßstab
MaterialGlas
Teilungsperiode 20 μm
Position Referenzmarkein der Mitte
in 50 mm Abständen
kundenspezifisch
Genauigkeit±1 μm/m
Max. Messlänge90 mm

Anwendungsbeispiele

  • Fertigungs- und Inspektionsmaschinen für die Halbleiterindustrie
  • Lineareinheiten, Linearantriebe und Koordinatentische
  • Messmaschinen und Messmikroskope
  • Positionier- und Messeinrichtungen in der Medizintechnik
  • Präzisionsgeräte der Reprografie
  • Präzisionsbearbeitungsmaschinen
  • Roboter

Success Stories

Metrologie

Mit Hilfe eines hochauflösenden, optischen Linearmesssystems wie dem LIKselect von NUMERIK JENA, kann ein Fahrzeugassistenzsystem exakt justiert werden. Der herausfordernde Aspekt hierbei ist die stetig vorangetriebene Miniaturisierung der Justageeinheiten mit sehr eng beschaffenen Bauräumen für die Messsysteme. Hierbei ist jeder Millimeter auschlaggebend und häufig werden kundenspezifische Anforderungen an die Messsysteme gestellt, die nur selten in Katalogen von Lieferanten zu finden sind.

NUMERIK JENA bietet hierfür die optimale Lösung mit dem LIKselect.

Halbleitertechnik

Hochpräzises Positionieren von Achsen ist dabei der Schlüssel für viele Errungenschaften der modernen Technik. Gerade in der industriellen Halbleiterfertigung oder auch in den Bereichen Medizin, Forschung und Inspektion von Materialien bekommen Positionieraufgaben einen stetig wachsenden Stellenwert.

Die Herausforderungen dabei sind die stetige Miniaturisierung von Baugruppen, das hochgenaue und reproduzierbare Messen von Translationen sowie die Zuverlässigkeit der integrierten Systeme.

Automatisierungstechnik

Bei einer kundenspezifischen Prüfanlage werden Bauteile auf Ihre Güte vermessen und danach sortiert.  Mit Hilfe spezieller Kamera- und Mikroskoptechniken werden die Spezifikationen der Bauteile überwacht und eine entsprechende Sortierung gewährleistet. Die Positionierung der Prüftechnik erfolgt durch hochauflösende Messtechnik, welche individuell an die Anforderungen der Prüfanlage und des vorhandenen Bauraumes angepasst wurde. 

Die Wahl fiel auf das rotative optische Messsystem RIK 4 von NUMERIK JENA, da dieses System alle geforderten Eigenschaften erfüllen konnte.

Medizintechnik

MRTs erzeugen sehr starke Magnetfelder sowie magnetische Wechselfelder im Radiofrequenzbereich, mit denen bestimmte Atomkerne (meist die Wasserstoffkerne/Protonen) im Körper resonant angeregt werden. Jegliche ferromagnetischen Materialien in direkter Umgebung des Messbereiches, würden das Messergebnis negativ beeinträchtigen.

Deshalb hat NUMERIK JENA speziell für Anwendungen dieser Art Messsysteme mit nichtmagnetischen Komponenten entwickelt.

Automobilindustrie

Bei der Montage von Karosserieteilen in der Automobilherstellung müssen präzise Abstände und Winkel zwischen den einzelnen Komponenten eingehalten werden, um eine korrekte Ausrichtung und Passgenauigkeit zu gewährleisten. Diese Prozesse erfordern höchste Präzision und Genauigkeit, um eine hohe Qualität der Endprodukte zu gewährleisten.

Hierfür werden Winkelmesssysteme wie beispielsweise das Kit R4 von NUMERIK JENA in Roboterarmen eingesetzt, um eine präzise Positionierung der Karosserieteile sicherzustellen.

Druckindustrie

Referenzierung ist ein wichtiger Schritt während des Druckprozesses, bei dem die Druckköpfe in der Druckmaschine auf eine bestimmte Startposition gesetzt werden. Dies ist notwendig um wiederholbar und genau Oberflächen bedrucken zu können. Dafür werden häufig absolut messende Encoder verwendet, da sie stets eine präzise Positionsinformation an beliebigen Stellen liefern können ohne eine zusätzliche Referenzfahrt durchführen zu müssen.

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