Optische Messsysteme

Zur Weg- und Winkelerfassung

Optisches Abtastprinzip durch EPIFLEX Sensormodul

KLEIN, HOCHAUFLÖSEND, KUNDENSPEZIFISCH KONFIGURIERBAR

LIKgo

Neu designtes inkrementelles Messsystem, entwickelt um Kundenanforderungen gerecht zu werden

Neue 3-feld Abtasttechnologie mit extrem hoher Signalqualität, ohne Phasen- und Offsetfehler, reduzierte Interpolationsfehler, sehr geringer Strombedarf und Hitzeentwicklung... mehr

LIKselect

Inkrementelles Linearmesssystem, ideal zur Miniaturisierung von Antrieben

Sehr kleine und flache Bauform, hohe Variantenvielfalt durch modulare Bauweise, Messchritte bis zu 78 nm möglich... mehr

NPA - NUMERIK PWT ADAPTER

Adapter zum Anschluß an das Prüf- und Testgerät PWT 101 von HEIDENHAIN.

Der NPA – Numerik PWT Adapter – ist ein Zubehör-Artikel zum Anschluss von linearen inkrementellen Messsystemen der neuen Produktgeneration der NUMERIK JENA an das PWT101, ein Testgerät der Dr. JOHANNES HEIDENHAIN GmbH zur Funktionskontrolle sowie Justage von Messgeräten... mehr


EPIFLEX Pro Software

Im Zuge der stetigen Weiterentwicklung und Verbesserung unserer Produkte aktualisieren wir auch in regelmäßigen Abständen unsere Software, die Sie bei der Einrichtung unserer Messsysteme unterstützt. Die Aktualisierungen beinhalten in der Regel vor allem Performanceverbesserungen sowie...

Im Zuge der stetigen Weiterentwicklung und Verbesserung unserer Produkte aktualisieren wir auch in regelmäßigen Abständen unsere Software, die Sie bei der Einrichtung unserer Messsysteme unterstützt. Die Aktualisierungen beinhalten in der Regel vor allem Performanceverbesserungen sowie Fehlerbehebungen.

In diesem Zusammenhang möchten wir Sie darüber informieren, dass wir eine neue Version unserer EPIFLEX Pro Software (Version: 3.1.0 / Stand 08 2021) veröffentlicht haben, welche alle vorherigen Versionen ablöst. Um einen reibungslosen Einsatz sowie unsere Unterstützung im Problemfall gewährleisten zu können, ist es notwendig stets die aktuellste Softwareversion zu verwenden.

zum Download

LIKselect

Mit dem inkrementellen Linearmesssystem LIKselect bringt NUMERIK JENA ein völlig neu gestaltetes Produkt auf den Markt, das speziell für Kundenanforderungen entwickelt wurde.

Das LIKselect ergänzt die neue LIK Serie und eröffnet dem Anwender vielfältig erweiterbare Ingerationsmöglichkeiten....

Mit dem inkrementellen Linearmesssystem LIKselect bringt NUMERIK JENA ein völlig neu gestaltetes Produkt auf den Markt, das speziell für Kundenanforderungen entwickelt wurde.

Das LIKselect ergänzt die neue LIK Serie und eröffnet dem Anwender vielfältig erweiterbare Ingerationsmöglichkeiten. Aufgrund des modularen Aufbaus, ist das Messsystem auf unterschiedlichste Einbausituationen und Platzverhältnisse adaptierbar.

weitere Informationen

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Digital Semiconductor Event 2022

Neue Dimensionen für die Halbleiter- und Elektronikfertigung

Entdecken Sie Technologien wie MULTI-DOF und TRANSFERABLE ACCURACY oder EnDat 3, mit denen Sie mehr Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Performance für das Advanced und High-Performance Packaging oder Chiplet und Wafer Bonding erreichen.

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Neue Dimensionen für die Halbleiter- und Elektronikfertigung

Entdecken Sie Technologien wie MULTI-DOF und TRANSFERABLE ACCURACY oder EnDat 3, mit denen Sie mehr Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Performance für das Advanced und High-Performance Packaging oder Chiplet und Wafer Bonding erreichen.

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