Optische Messsysteme

Zur Weg- und Winkelerfassung

Optisches Abtastprinzip durch EPIFLEX Sensormodul

KLEIN, HOCHAUFLÖSEND, KUNDENSPEZIFISCH KONFIGURIERBAR

RIK 4

Inkrementelles Messsystem zur Winkelerfassung

Teilkreise in mehreren Größen und Inkrementanzahlen, sehr flacher Aufbau, geringes Gewicht, kundenspezifisches Design

Mehr

LAK & Kit LA

Absolutes Linearmesssystem

Ultrakleine Abmessungen, kundenspezifische Gestaltungsmöglichkeiten, automatische Abgleichfunktion mit vielfältigen Analysemöglichkeiten über intuitive ABSOFLEX Software

Mehr

LIA Serie

Inkrementelles Messsystem zur Wegerfassung

Individuelle Messlängen, Interpolierte Ausgangssignale, optionaler Schaltsensor sowie viele weitere Features

Mehr


NUMERIK JENA NEWS

NUMERIK JENA stellt ein neues optoelektronisches Absolut-Messsystem mit minimalsten Abmessungen vor.  Entwickelt für besondere Anforderungen mit höchster Präzision.

LAK & Kit LA

  • Absolutes Linearmesssystem mit ultrakleinen Abmessungen
  • Automatische Abgleichfunktion nach dem Einbau mit vielfältigen Analysemöglichkeiten über eine intuitive ABSOFLEX Diagnosesoftware
  • Hohe Auflösung bis zu 78 nm (ohne zusätzliche Elektronik)
  • Hohe Verfahrgeschwindigkeiten bis zu 10 m/s
  • Mehrere...

  • Absolutes Linearmesssystem mit ultrakleinen Abmessungen
  • Automatische Abgleichfunktion nach dem Einbau mit vielfältigen Analysemöglichkeiten über eine intuitive ABSOFLEX Diagnosesoftware
  • Hohe Auflösung bis zu 78 nm (ohne zusätzliche Elektronik)
  • Hohe Verfahrgeschwindigkeiten bis zu 10 m/s
  • Mehrere Schnittstellen nutzbar
  • Sehr geringes Messkopf-Gewicht
  • LAK mit Standard-Messkopfgehäuse sowie spezielle Kit-Variante mit kundenspezifischen Gehäusen oder Sensorrahmen erhältlich

CONTROL

09. - 12. Mai 2017 in Stuttgart

Als Weltleitmesse für Qualitätssicherung führt die Control die internationalen Marktführer und innovativen Anbieter aller QS-relevanten Technologien, Produkte, Subsysteme sowie Komplettlösungen in Hard- und Software mit den Anwendern aus aller Welt zusammen.

Mit...

09. - 12. Mai 2017 in Stuttgart

Als Weltleitmesse für Qualitätssicherung führt die Control die internationalen Marktführer und innovativen Anbieter aller QS-relevanten Technologien, Produkte, Subsysteme sowie Komplettlösungen in Hard- und Software mit den Anwendern aus aller Welt zusammen.

Mit mehr als 900 Ausstellern aus 32 Ländern der Erde ist die Control die Informationsquelle Nummer 1 für alle Unternehmen, die erstklassige Qualität als Basis ihres Geschäftserfolgs sehen. Die Fachbesucher erhalten sehr früh Einblicke in die Produktions- und Prüftechnik-Sphären der Zukunft. Dabei setzt die Control auf den Wissens- und Technologie-Transfer zwischen Forschung und Entwicklung sowie den Anwendern in der Industrie.

Um diese Zielsetzung optimal zu erreichen, arbeitet die Control sehr intensiv mit den wegweisenden Institutionen der Branche zusammen. Mit im Boot sind unter anderem die Fraunhofer-Allianz Vision, das Fraunhofer IPA, emva – european machine vision association und die Deutsche Gesellschaft für Qualität (DGQ). Dieses geballte Know-how wird für die Besucher in Sonderschauen, Technologieparks und Fachvorträgen greifbar gemacht und entfaltet so einen direkten Zusatznutzen für die Anwender.

Sie finden uns in Halle 7 / Stand 7114

Weitere Informationen erhalten Sie hier: http://www.control-messe.de